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美国DAKOTA CMXDL+多功能超声波测厚仪

美国DAKOTA CMXDL+多功能超声波测厚仪可以仅测量基体厚度、也可以同时测量基体和涂层的厚度、还也可以仅测量涂层厚度,用户可根据需求选择不同的功能配置,CMXDL+超声波测厚仪可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-03-05
  • 访  问  量:390
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联系电话:13503716769

详细介绍

美国DAKOTA CMXDL+多功能超声波测厚仪带A/B扫描功能,可测量材料的厚度,穿透涂层测量材料厚度,也可以测量涂层的厚度。用户可根据需求选择不同的功能配置,以获得更好的性价比。
标准版为灰度显示屏,可选彩屏版。

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产品特点:

  • 美国DAKOTA CMXDL+多功能超声波测厚仪测量方式(仅测量基体厚度、同时测量基体和涂层的厚度、仅测量涂层厚度)

  • 显示模式(数字式显示、B扫描显示、A扫描显示<仅cmx>)

  • 增益可调节:超低、低、中、高、超高

  • 增益值可到110dB

  • 自动增益控制(AGC)

  • 时间增益校正(TCG)

  • 探头自动识别,自动调零和温度补偿

  • 最大值、最小值显示

  • 可存储64个用户参数设置

  • 高速扫查(50次/秒)

  • 高达140HZ的脉冲重复频率

  • B扫描显示用于显示被测材料的截面形状

  • A扫描波形显示和RF显示(CMX DL+)

  • 差值测量模式

  • 高速扫查功能可用于快速找到壁厚的最小值

  • 上/下限声光报警功能

  • 数据存贮:可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数

  • 可通过软件与计算机进行数据交换,方便用户打印检测报告

美国DAKOTA CMXDL+多功能超声波测厚仪技术参数:

测量

脉冲-回波(P-E)模式测量范围:0.63mm~30.48m(钢)
  脉冲-回波涂层(PECT)模式测量范围:0.63mm~30.48m(钢),0.0254~2.54mm(涂层)
  脉冲-回波温度补偿(PETP)模式 测量范围:0.63mm~30.48m(钢)
  回波-回波(E-E)模式测量范围:2.54~152.4mm(钢,穿过涂层测量,随涂层厚度的不同,测量范围也会变化)
  回波-回波验证(E-EV)模式测量范围:2.54~102mm(钢,穿过涂层测量,随涂层厚度的不同,测量范围也会变化)
  测量涂层(CT)模式测量范围:0.0127~2.54mm(涂层)
  分辨率:0.01mm
  声速范围:309.88~18542m/s
  单位:公制或英制
  校准:一点和两点校准方式

显示

显示屏:1/8英寸VGA灰色显示,240x160象素。可视区62x45.7mm,EL背光;可选1/4英寸彩色显示屏,320x240象素
  A-扫描方式:检波+/-(缺陷视场),RF(全波视场)。刷新频率25Hz/60Hz(彩色显示屏)。纵向和横向视图(彩色显示屏)
  B-扫描方式:基于时间的横截面视图。 显示速度为每秒10到200个读数
  大数字方式:标准厚度显示,数字高度17.78mm/14.35mm(彩色显示屏)
  厚度条形扫描:速度10Hz,在B-扫描和大数字显示中可见
  稳定度指示:表示测量值的稳定性
  功能状态指示:显示当前激活的功能

超声波参数

测量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
  脉冲:可调方波脉冲发生器
  接收:根据选择模式在110dB范围内采用手动或AGC增益控制,阻抗50~1500Ω可调
  计时:单次100MHz8位超低功耗数字化仪的精确TCXO计时
  脉冲重复频率:250Hz

探头

频率范围:1~20MHz
  双晶探头和单晶探头(延迟块、接触式、笔式)
  LEMO接口,1.2米探头线
  可定制用于特殊应用的探头

存储

容量:内置4GB SD卡
  数据结构:网格(字母数字)和顺序(自动识别)
  截屏功能:位图图形捕获,用于快速记录
  数据输出:通过USB Type-C连接的计算机

功能

设置:64个用户定义设置,用户也可编辑出厂设置
  探头类型可选:内置双路误差校正,提高线性度
  报警模式:上下限视听报警
  快速扫描模式:每秒250个读数,当探头离开时显示最小值

其他

键盘:12个触摸键
  电源:标配为三节5号碱性电池 ,可选镍镉电池或锂电池。电量状态指示。无操作五分钟后自动关机。USB Type-C供电
  外壳:挤压铝机壳,底盖用镀镍铝板加密封垫封装
  工作温度:-10~60℃
  尺寸重量:63.5x165x31.5mm,含电池385g
  包装:ABS工程塑料箱
  出厂证书:工厂校准可追溯到NIST和MILSTD-45662A标准



 
























































美国DAKOTA CMXDL+多功能超声波测厚仪可选双晶探头:

型号

   频率

  晶片直径

  防磨面直径

   测量范围

   说明

   T-102-2900

   5.0MHz

   6.35mm

   9.53mm

   1.0152mm

   标准CT探头(可测涂层厚度)

   T-101-2900

   5.0MHz

   4.76mm

   6.35mm

   1.050mm

   小管径CT探头

   T-102-3300

   7.5MHz

   6.35mm

   9.53mm

   0.63152mm

   超薄探头

   T-104-2900

   5.0MHz

   12.7mm

   15.88mm

   1.27508mm

   超厚CT探头

   T-042-2000

   5.0MHz

   6.35mm

   9.53mm

   1.0152mm

   标准高温探头,最高340℃

   T-044-2000

   5.0MHz

   12.7mm

   15.88mm

   1.27508mm

   超厚高温探头,最高340℃

   T-212-2001

   5.0MHz

   6.35mm

   9.53mm

   1.0152mm

   超高温探头,最高480℃

   T-214-2001

   5.0MHz

   12.7mm

   15.88mm

   1.27508mm

   超厚超高温探头,最高480℃

注:测试高温表面时需用高温耦合剂

 

美国DAKOTA CMXDL+多功能超声波测厚仪可选单晶探头:

探头型号

   频率

   描述

   说明

   T-402-5507

   15MHz

   晶片Ø6.35mm

   标准延迟块探头

   T-402-6507

   20MHz

   晶片Ø6.35mm

   延迟块探头

   T-4903-2875

   5MHz

   晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm

   接触式探头

   T-4903-4875

   10MHz

   晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm

   接触式探头

   T-4023-2855

   5MHz

   晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm

   接触式探头

   T-4023-4855

   10MHz

   晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm

   接触式探头

   T-481-4507

   10MHz

   延迟块前端Ø1.59mm

   笔式探头

 



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