TECHNICAL ARTICLES
相关文章美国DAKOTA CMXDL+多功能超声波测厚仪可以仅测量基体厚度、也可以同时测量基体和涂层的厚度、还也可以仅测量涂层厚度,用户可根据需求选择不同的功能配置,CMXDL+超声波测厚仪可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数
联系电话:13503716769
美国DAKOTA CMXDL+多功能超声波测厚仪带A/B扫描功能,可测量材料的厚度,穿透涂层测量材料厚度,也可以测量涂层的厚度。用户可根据需求选择不同的功能配置,以获得更好的性价比。
标准版为灰度显示屏,可选彩屏版。
产品特点:
美国DAKOTA CMXDL+多功能超声波测厚仪测量方式(仅测量基体厚度、同时测量基体和涂层的厚度、仅测量涂层厚度)
显示模式(数字式显示、B扫描显示、A扫描显示<仅cmx>)
增益可调节:超低、低、中、高、超高
增益值可到110dB
自动增益控制(AGC)
时间增益校正(TCG)
探头自动识别,自动调零和温度补偿
最大值、最小值显示
可存储64个用户参数设置
高速扫查(50次/秒)
高达140HZ的脉冲重复频率
B扫描显示用于显示被测材料的截面形状
A扫描波形显示和RF显示(CMX DL+)
差值测量模式
高速扫查功能可用于快速找到壁厚的最小值
上/下限声光报警功能
数据存贮:可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数
可通过软件与计算机进行数据交换,方便用户打印检测报告
美国DAKOTA CMXDL+多功能超声波测厚仪技术参数:
测量 |
脉冲-回波(P-E)模式测量范围:0.63mm~30.48m(钢) |
显示 |
显示屏:1/8英寸VGA灰色显示,240x160象素。可视区62x45.7mm,EL背光;可选1/4英寸彩色显示屏,320x240象素 |
超声波参数 |
测量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT |
探头 |
频率范围:1~20MHz |
存储 |
容量:内置4GB SD卡 |
功能 |
设置:64个用户定义设置,用户也可编辑出厂设置 |
其他 |
键盘:12个触摸键 |
美国DAKOTA CMXDL+多功能超声波测厚仪可选双晶探头:
型号 | 频率 | 晶片直径 | 防磨面直径 | 测量范围 | 说明 |
T-102-2900 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0~152mm | 标准CT探头(可测涂层厚度) |
T-101-2900 | 5.0MHz | 4.76mm | 6.35mm | 1.0~50mm | 小管径CT探头 |
T-102-3300 | 7.5MHz | 6.35mm | 9.53mm | 0.63~152mm | 超薄探头 |
T-104-2900 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27~508mm | 超厚CT探头 |
T-042-2000 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0~152mm | 标准高温探头,最高340℃ |
T-044-2000 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27~508mm | 超厚高温探头,最高340℃ |
T-212-2001 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0~152mm | 超高温探头,最高480℃ |
T-214-2001 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27~508mm | 超厚超高温探头,最高480℃ |
注:测试高温表面时需用高温耦合剂
美国DAKOTA CMXDL+多功能超声波测厚仪可选单晶探头:
探头型号 | 频率 | 描述 | 说明 |
T-402-5507 | 15MHz | 晶片Ø6.35mm | 标准延迟块探头 |
T-402-6507 | 20MHz | 晶片Ø6.35mm | 延迟块探头 |
T-4903-2875 | 5MHz | 晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm | 接触式探头 |
T-4903-4875 | 10MHz | 晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm | 接触式探头 |
T-4023-2855 | 5MHz | 晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm | 接触式探头 |
T-4023-4855 | 10MHz | 晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm | 接触式探头 |
T-481-4507 | 10MHz | 延迟块前端Ø1.59mm | 笔式探头 |