奥林巴斯OLYMPUS 45MG超声波测厚仪
操作简便、坚固耐用、性能可靠
奥林巴斯olympus 45MG是一款配备有标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。45MG超声波测厚仪具有特色的仪器与奥林巴斯的所有双晶和单晶测厚探头相兼容，是一款集多种解决方案于一机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。
奥林巴斯olympus 45MG超声波测厚仪标准功能：
提供基本配置的45MG超声波测厚仪是一款简单易学的测厚仪，操作人员只需少量的培训，就可以处理大多数常见的测厚应用。不过，添加了可选购软件选项和探头之后的45MG仪器，就会变成一款非常先进的测厚仪，可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外，大多数选项可以在购买仪器时分别购买，或在日后需要时购买。
在恶劣环境中正常操作
坚固耐用，设计符合IP67标准。
爆炸性气氛测试：通过了美军标准MIL-STD-810F方法511.4程序I中规定的测试。
撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波。
振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。
宽泛的操作温度范围
可选购带有支架的橡胶保护套
仪器设计，便于操作
简洁的键区，只用单手（左手或右手）即可操控仪器
浏览方便的用户界面，可直接访问大多数功能
内置microSD存储卡和可插拔microSD存储卡的存储方式
USB通信端口
可选字母数字式数据记录器，可存储475000个厚度读数或20000个波形
默认或自定义单晶探头设置（可选购）
通过密码保护方式锁定仪器
彩色透反QVGA显示，带有室内和室外颜色设置，具有很高的清晰度
可选功能
只需几次按键，即可完成从简单的腐蚀测厚仪到多功能精确测厚仪的华丽变身。45MG测厚仪提供5个需密码激活的软件选项，从而跻身于工业领域中用途广泛的测厚仪行列。
回波到回波/穿透涂层（THRU-COAT）：使用回波到回波选项，仪器屏幕上会显示金属的实际厚度，而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度，两种厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，在进行厚度测量时，无需去掉材料表面上的漆层或涂层。
单晶：这个选项可对很多材料，如：金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷，进行非常精确的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。
单晶高穿透：这个选项可对较厚或衰减性较高的材料，如：玻璃纤维或铸造金属，进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。
数据记录器：45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。
带有波形调整功能的实时A扫描：用户使用这个可选配实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和空白设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中大幅增强测量性能。这个有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、回波空白、范围及延迟等参数。
奥林巴斯olympus 45MG超声波测厚仪技术参数：
测量 | 双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后的精确延迟到第一个回波之间的时间间隔 |
| 回波到回波（可选） | 在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度 |
| 穿透涂层测量（可选） | 利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度（使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探头） |
| 单晶探头测量模式（可选） | 模式1：激励脉冲与第一个底面回波之间的时间间隔
模式2：延迟块回波与第一个底面回波之间的时间间隔（使用延迟块或水浸式探头）
模式3：在激励脉冲之后，位于第一个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟块探头或水浸式探头） |
| 厚度范围 | 0.080 mm ～ 635 mm，视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定（要测量整个厚度范围需要使用单晶选项） |
| 材料声速范围 | 0.508 mm/μs ～ 18.699 mm/μs |
| 分辨率（可选） | 低分辨率：0.1 mm
标准分辨率：0.01 mm
单晶选项：0.001 mm |
| 探头频率范围 | 标准：2.25 MHz ～ 30 MHz（-3 dB）；高穿透（单晶选项）：0.50 MHz ～ 30 MHz（-3 dB） |
一般规格 | 操作温度范围 | -10 °C ～ 50 °C |
| 键区 | 密封、以色彩区分功能的键区，带有触感及声音反馈 |
| 机壳 | 防撞击、防水、装有密封垫的机壳，机壳上的接口密封。 设计符合IP67标准。 |
| 外型尺寸（宽 × 高 × 厚） | 总体尺寸：91.1 mm × 162 mm × 41.1 mm |
| 重量 | 430.9克 |
| 电源供应 | 3节AA电池 / USB电源供应 |
| 电池供电时间 | 3节AA碱性电池：20 ～ 21小时
3节AA镍氢电池：22 ～ 23小时
AA锂电池：35 ～ 36小时 |
| 标准 | 设计符合EN15317标准 |
显示 | 彩色透反QVGA显示 | 液晶显示，显示屏尺寸：54.61毫米 × 41.15毫米 |
| 检波 | 全波、射频波、正半波、负半波（波形选项） |
输入/输出 | USB | 2.0客户端 |
| 存储卡 | 最大容量：2 GB可插拔microSD存储卡 |
内置数据记录器（可选） | 数据记录器 | 45MG通过USB或microSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。 |
| 容量 | 475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形 |
| 文件名、ID编码和注释 | 不超过32个字符的文件名，不超过20个字符的字母数字位码，每个位有4个注释。 |
| 文件结构 | 6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构 |
| 报告 | 机载报告，总结了数据统计和最小值/最大值 |
奥林巴斯olympus 45MG超声波测厚仪使用双晶探头：
45MG测厚仪的一个主要应用是测量那些受到了腐蚀或侵蚀的管道、管子、箱体、压力容器、船体外壳及其他结构的剩余厚度。在这些应用中通常使用双晶探头。
B扫描成像（基于时间）
45MG测厚仪所提供的B扫描功能，可在屏幕上将实时厚度读数转换为横截面图像。这个标准功能非常有用，因为可观察到材料的厚度值随着探头的移动而发生的变化。探头一接触到材料表面，就会激活B扫描。冻结最小值功能用于显示已扫查区域的最小厚度值。可选45MG数据记录器最多可存储单个B扫描中的10000个厚度读数。
高温表面
45MG测厚仪配上D790系列探头（D790、D790-SM、D790-RL和D790-SL），是测量高温材料（温度高达500 ºC）的理想选择，可获得稳定的厚度读数。45MG的零位补偿功能，通过补偿探头延迟块因热漂移而产生的温度变化，提高了在高温表面上进行测量的准确性。
回波到回波
测厚仪通过使用多重底面回波，显示不计涂层厚度的实际金属厚度：
穿透涂层技术
| 使用单个底面回波测量金属的实际厚度。这个技术可以分别显示金属和涂层的厚度，两种厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，要测量金属材料的厚度，无需去掉其表面的漆层和涂层。穿透涂层测量技术使用D7906-SM、D7906-RM和D7908双晶探头。 |
使用单晶探头：
对塑料、金属、复合材料、玻璃、橡胶及陶瓷材料进行厚度测量
使用单晶探头可以准确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我们提供多种频率、直径和连接器样式的单晶探头。如果用户要将45MG仪器与单晶探头配合使用，则必须购买单晶软件或高穿透软件选项。
在使用频率范围为2.25 MHz ～ 30 MHz的单晶探头时，单晶软件选项可显示分辨率高达0.001毫米的测量值。
高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料
测量厚度、声速或渡越时间
自动调用默认设置和自定义设置用于当前应用的功能简化了厚度测量操作
单晶软件选项
使用单晶软件选项可以完成分辨率高达0.001毫米的精确厚度测量。可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。可测量以下材料和产品：
单晶高穿透软件选项
用户使用这个选项可在使用低频单晶探头（低到0.5 MHz）的情况下，测量橡胶、玻璃纤维、铸件及复合材料等较厚或声波衰减性较强的材料。这个选项包含单晶选项。
应用设置调用应用设置调用功能简化了厚度测量操作。选择了任何一个存储的探头后，45MG测厚仪就会调出与这个探头相关的所有内置参数。 存储的标准设置 45MG仪器带有21个标准单晶探头设置，可完成常见的应用。这些默认探头设置可用于各种各样的厚度测量应用。 存储的自定义设置 45MG还可存储最多35个自定义单晶探头的设置，包括校准信息。您可以连接适当的探头，并调用设置文件，然后仪器便可进行厚度测量，甚至是在非常困难的应用中。
| 材料声速测量45MG仪器可以测量材料的声速。在材料声速与其他属性密切相关的应用中，这个标准功能非常有用。典型的应用包括监测铸造金属的球化程度，以及监测复合材料/玻璃纤维的密度变化。 缩减率测量 差值模式和缩减率模式是45MG的标准功能。差值模式显示实际厚度与预先设定的厚度值之间的差异。缩减率计算并显示材料厚度变薄以后厚度缩减的百分比。对经过弯曲变形并将制成车身面板的钢板进行的缩减率测量是一个典型的应用。
奥林巴斯olympus 45MG超声波测厚仪标准套装：
奥林巴斯olympus 45MG超声波测厚仪软件选项：45MG-SE (U8147022)：单晶选项，使用频率范围为2.25 MHz ～ 30 MHz的单晶探头。 45MG-HP (U8147023)：单晶高穿透选项，使用频率范围为0.5 MHz ～ 30 MHz的单晶探头。 45MG-EETC (U8147021)：回波到回波和穿透涂层。 45MG-WF (U8147019)：波形选项。 45MG-DL (U8147020)：内置数据记录器，包含GageView接口程序。
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