
TECHNICAL ARTICLES
相关文章

日立HITACHI CMI233手持式涂镀层测厚仪能够以合理的价格执行准确、高效的涂层/电镀厚度检验。可采用自动或连续模式执行测量。CMI233有扫描选项,可以补偿不均匀或纹理化的基底材料,提高仪表的重复性和再现性表现。具备容纳12,000多个读数的大存储容量,可适应高使用率的应用。
产品型号:
厂商性质:代理商
更新时间:2026-05-19
访 问 量:75
立即咨询
联系电话:13503716769
日立HITACHI CMI233手持式涂镀层测厚仪
多样的手持式涂层厚度仪表具有与台式仪表相同的准确度:
借助CMI233这一可靠的方式,用户能够以合理的价格执行准确、高效的涂层/电镀厚度检验。可采用自动或连续模式执行测量。
我们的CMI233有扫描选项,可以补偿不均匀或纹理化的基底材料,提高仪表的重复性和再现性表现。
具备容纳12,000多个读数的大存储容量,可适应高使用率的应用。
具备1个涡电流探头和2个磁性探头。
通过自动日期戳和高/低指示灯提供指定的扫描时间
在不使用线宽标准的情况下测量低至204微米 (8密耳)的薄蚀刻痕迹。
可针对多种应用进行定制。
静态或连续模式测量。
存储9,690个测量值(可选日期和时间戳)
使用经过认证的参考材料为应用定制特定的校准。
可选探头:
涡电流/直线/ ECP
磁性/直线/SMP-2
磁性/右角度/RSMP-2
技术参数:
测量方法:统计显示:读数数量、平均值、标准偏差、高低读数
磁感应:遵从方法 ASTM B499 & B530、DIN 50981、ISO 2178 和 BS 5411 Parts 9 & 11。
涡电流:遵从方法 ASTM B244 & B259、DIN 50984、ISO 2360 和 BS 5411 Parts 3。
准确度:+/-(1% + 0.1 微米),参照参考标准。
测量范围:磁性:0.1-120 密耳(0-3.01 毫米)
涡电流:0.1-60 密耳(0-1.52 毫米)
分辨率:0.01 密耳(0.25 微米)。
存储容量:12,400 个读数。
最小含铁和非铁厚度:12 密耳(305 微米)。
尺寸(英寸): 5 7/8 英寸(长) x 3 1/8 英寸(宽) x 1 3/16 英 寸(厚)
厘米:14.9(长) x 7.94(宽) x 3.02(厚)。
重量:9 盎司(0.26 千克,含电池)。
单位:使用按键在公制和米制之间自动转换。
电池:9V 干电池或充电电池(连续小时数:
含铁 50,非铁 45。
充电电池:含铁 11,非铁 10。
显示屏:三台数字 LCD 显示屏,1/2 英寸(1.27 厘米)字符高。
按键:封口膜。增强单位 - 16 键。
型号 | CMI155 | CMI157 | CMI255 | CMI257 | CMI233M | CMI233E | CMI233D |
设备 | 磁性金属 / 非磁性金属 | 磁性金属 / 非磁性金属 | 磁性金属 / 非磁性金属 | 磁性金属 / 非磁性金属 | 磁性金属 | 非磁性金属 | 磁性金属 / 非磁性金属 |
磁性钢上涂层的测量 | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ | |
铝材上涂层的测量 | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ | |
技术 | 磁感应 / 电涡流 | 磁感应 / 电涡流 | 磁感应 / 电涡流 | 磁感应 / 电涡流 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 / 电涡流 |
探头 | 集成型 | 集成型 | 集成型 | 导线延伸型 | 导线延伸型 | 导线延伸型 | 导线延伸型 |
探头替换 | 服务 | 服务 | 服务 | 服务 | 用户可更换 | 用户可更换 | 用户可更换 |
单位选择 | oz或µm | mil或µm | mil或µm | mil或µm | mil或µm | mil或µm | mil或µm |
厚度范围 | F: 0-80 | F: 0-120 | F: 0-140 | F: 0-140 | F: 0-140 | NF: 0-60 | F: 0-120 |
厚度范围 | F: 0-2,000 | F: 0-3,000 | F: 0-3,500 | F: 0-3,500 | F: 0-3,048 | NF: 0-1,524 | F: 0-3,048 |
分辨率 | 0.1@0-80 | 0.1@0-100 | 0.1@0-100 | 0.1@0-100 | 0.01 | 0.01 | 0.01 |
分辨率 | 1@0-1,000 | 1@0-1,000 | 1@0-1,000 | 1@0-1,000 | 0.25 | 0.25 | 0.25 |
基准归零 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | ||
用户校准 | 有 | 有 | 有 | ||||
测量统计数据 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 |